Electronica 2024 külastajatele

Broneerige oma aeg kohe!

Vaja on vaid mõnda klõpsu oma koha broneerimiseks ja boksipileti saamiseks

Hall C5 Booth 220

Eelregistreerimine

Electronica 2024 külastajatele
Sa oled kõik registreerunud! Täname, et tegite kohtumise!
Saadame teile boksi piletid e -posti teel, kui oleme teie broneeringu kontrollinud.
Kodu > Tooted > Integraallülitused (IC) > Logic - Specialty Logic > SN74ABT8646DWR
RFQs/tellimus (0)
Eesti Vabariik
Eesti Vabariik
3877381

SN74ABT8646DWR

Küsi hinnapakkumist

Palun täitke kõik nõutavad väljad koos oma kontaktandmega.Või saatke meile e -kiri:info@ftcelectronics.com
Päring veebis
Spetsifikatsioonid
  • Osa number
    SN74ABT8646DWR
  • Tootja / bränd
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Varukogus
    Laos
  • Kirjeldus
    IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
  • Lead Free status / RoHS staatus
    Plii vaba / RoHS vastavuses
  • Toitepinge
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Pakkuja seadme pakett
    28-SOIC
  • Seeria
    74ABT
  • Pakend
    Tape & Reel (TR)
  • Pakett / kott
    28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Töötemperatuur
    -40°C ~ 85°C
  • Bitide arv
    8
  • Paigaldus tüüp
    Surface Mount
  • Niiskuse tundlikkuse tase (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Logic Type
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
  • Lead Free status / RoHS staatus
    Lead free / RoHS Compliant
  • Täpsem kirjeldus
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
  • Baasosa number
    74ABT8646

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024/11/15

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024/11/14
Saatmine
Makse
Järgnev on "SN74ABT8646DWR" seotud tooted.
SN74ABT863DBR

SN74ABT863DBR

Kirjeldus: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24SSOP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8646DW

SN74ABT8646DW

Kirjeldus: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8652DLR

SN74ABT8652DLR

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT863NTG4

SN74ABT863NTG4

Kirjeldus: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8646DWRE4

SN74ABT8646DWRE4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT863DWR

SN74ABT863DWR

Kirjeldus: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8646DLR

SN74ABT8646DLR

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8646DLG4

SN74ABT8646DLG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8652DWRE4

SN74ABT8652DWRE4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8652DWRG4

SN74ABT8652DWRG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8652DL

SN74ABT8652DL

Kirjeldus: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8652DLG4

SN74ABT8652DLG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8646DL

SN74ABT8646DL

Kirjeldus: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8652DW

SN74ABT8652DW

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8646DWRG4

SN74ABT8646DWRG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT863DW

SN74ABT863DW

Kirjeldus: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT863NT

SN74ABT863NT

Kirjeldus: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT861NT

SN74ABT861NT

Kirjeldus: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
SN74ABT8652DLRG4

SN74ABT8652DLRG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
RFQ
Ainsa avaliku avaturu turustajana on meil ainulaadne kombinatsioon globaalsest juurdepääsu, töötleva tööstuse teadmiste ja tõestatud kvaliteedi kohta.Sellega saame luua kohandatud, otsast lõpuni tarneahela lahendusi elektroonikakomponentide hankimiseks ja varude haldamiseks.
Järgne meile
TingimusedRikkumispoliitikaTaotleda pakkumistMeistVõta meiega ühendustSaidikaart

Vali keel

Väljumiseks klõpsake ruumi

Praegune keel

Valige oma riik või piirkond.